Publikace

RNDr. Pavel Dobis, CSc.

2012
BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Exploring Physical Properties of Ferromagnetic Materials in Student Laboratories. In GIREP - EPEC 2011 International Confernce Physics Alive, Proceedings. Jyväskylä: University of Jyväskylä, 2012. s. 173-178. ISBN: 978-951-39-4800- 9.
BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Undergraduate Engineering Student Laboratory: Standard Physics Experiment plus Bonus. EDULEARN12 Abstract. 4th International Conference on Education and New Learning Technologies. Barcelona: International Association of Technology, Education and Development (IATED), 2012. ISBN: 978-84-695-3176- 1.
BARTLOVÁ, M.; BUŠOV, B.; DOBIS, P. Physics and Technology, Theory and Practice. In EDULEARN12, Proceedings CD. Barcelona, Španělsko: IATED, 2012. s. 4186-4192. ISBN: 978-84-695-3491- 5.
BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Undergraduate Engineering Student Laboratory: Standard Physics Experiment Plus Bonus. In EDULEARN12 Proceedings. 4th International Conference on Education and New Learning Technologies. Barcelona: International Association of Technology, Education and Development (IATED), 2012. s. 2829-3843. ISBN: 978-84-695-3491- 5.
DOBIS, P.; ŠTRUNC, M. The Notion of System in Nanophysics Nonextensivity of Nanosystems. In New Trends in Physics, NTF2012, Proceedings of the conference. Brno: Department of Physics FEEC BUT, 2012. s. 250-254. ISBN: 978-80-214-4594- 9.
 
2011
BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Exploring Physical Properties of Ferromagnetic Materials in Student Laboratories. GIREP - EPEC 2011 International Confernce Physics Alive, Abstract Booklet. Jyväskylä: GIREP, 2011. s. 106-106. ISBN: 978-951-39-4375- 2.
BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Undergraduate Student Laboratory: Standard Experiment plus Bonus. In Proceedings of the Conference PTEE 2011. Mannheim: SEFI, 2011. s. 1-6. ISBN: 978-3-931569-18- 1.
BUŠOV, B.; BARTLOVÁ, M.; DOBIS, P. TechOptimizer - the Bridge between Theory and Practice. In Proceedings of PTEE 2011. Mannheim, Německo: SEFI, 2011. s. 1-5. ISBN: 978-3-931569-18- 1.
 
2010
DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; BARTLOVÁ, M. Curie Temperature in Feromagnetic Materials and Visualised Magnetic Domains. Proceedings of the 3rd International Symposium for Engineering Education, 2010, roč. 2010, s. 307-312. ISSN: 2009- 3225.
ŠKARVADA, P.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P. Nanoscale Investigation in Opto- Electronic Devices. In NFO-11, 11th international conference on Near-field optics, Nanophotonics and Related Techniques. Beijing: Peking University, 2010. s. 57-58.
UHDEOVÁ, N.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; HOLCMAN, V.; SADOVSKÝ, P. Laboratorní cvičení z fyziky. Laboratorní cvičení z fyziky. Brno: Novpress s.r.o., 2010. s. 1-122. ISBN: 978-80-214-4121- 7.
 
2009
UHDEOVÁ, N.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; HOLCMAN, V.; SADOVSKÝ, P. Laboratorní cvičení z fyziky. Laboratorní cvičení z fyziky. Brno: FEKT VUT, 2009. s. 1-125. ISBN: 978-80-214-3935- 1.
TOMÁNEK, P.; MIKLÁŠ, J.; BAJGAR, A.; GRMELA, L.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Sensor of back- scattered light polarization in body cells. In Optical sensors 2009, Francesco Baldini, Jiri Homola, Robert A. Lieberman (Eds)., SPIE Proceedings, vol. 7356. Proceedings of SPIE. Bellingham, USA: SPIE, 2009. s. 7356281-7356289. ISSN: 0277- 786X.
TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; ABUBAKER, H. Measurement of diffused light polarization due to multiple backscattering in body cells. In 8th IMEKO TC 2 Symposium on Photonics in Measurements 2008. Proceedings. New York: Curran Associated, Inc., 2009. s. 152-157. ISBN: 978-1-61567-041- 3.
 
2008
UHDEOVÁ, N. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. skripta. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2008. s. 1-128. ISBN: 978-80-214-3712- 8.
TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Measurement of diffused light polarization due to multiple scattering in body cells. In 18th IMEKO TC 2 SYMPOSIUM on Photonics in Measurements. Prague: Zeithamlová Milena, Ing. - Agentura Action M, 2008. s. 95-99. ISBN: 978-80-86742-24- 3.
 
2007
GRMELA, L.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; TOMÁNEK, P. Optoelectronic noise and photocurrent measurement on GaAs/ AlGaAs laser diode with single quantum well. International Journal of Optomechatronics, 2007, roč. 1, č. 1, s. 73-80. ISSN: 1559- 9612.
UHDEOVÁ, N.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L. Fyzikální Praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, 2007. s. 1-128. ISBN: 978-80-214-3458- 5.
TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. The use of fiber Bragg gratings in sensing. In New trends in Physics 2007. Brno: Department of Physics FEEC, Brno University of Technology, 2007. s. 278-281. ISBN: 978-80-7355-078- 3.
TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Introductory interactive course of Nanotechnology for Electrical Engineering curriculum. In CoPhys 2006. Nitra: Constantine the Philosopher University, 2007. s. 157-162. ISBN: 978-80-8094-084- 3.
AHMED, M.; TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J. Local investigation on alternating current ZnS:Mn thin- film electroluminescent devices. In CoPhys 2006. Nitra: Constantine the Philosopher University, 2007. s. 53-63. ISBN: 978-80-8094-084- 3.
 
2006
UHDEOVÁ, N.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Brno: FEKT VUT, 2006. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-3234- 9.
 
2005
GRMELA, L., ŠIKULA, J., ZAJAČEK, J., DOBIS, P., MORAVEC, P. Transport and Noise Characteristics of CdTe Sensors. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., Brno, Ondráčkova 105, 2005. s. 288 ( s.)ISBN: 80-214-2990- 9.
P. Dobis, J. Brüstlová, V. Sedláková. Europhysics Conference Abstracts, Vol. 29G: Learning and Tutorial Supports for Bachelor Physics at Brno University of Technology. Europhysics Conference Abstracts, Vol. 29G. 4th International Conference on Physics Teaching in Engineering Education - PTEE 2005. Europhysics Conference Abstracts, Vol. 29G. Brno: European Physical Society, 2005. s. 7- 2 ( s.)ISBN: 2-914771-28- 2.
P. Dobis, J. Brüstlová, V. Sedláková. Learning and Tutorial Supports for Bachelor Physics at Brno University of Technology. In Proceedings of the 4th International Conference on Physics Teaching in Engineering Education - PTEE 2005. Brno: European Physical Society and European Society for Engineering Education, 2005. s. 72 ( s.)ISBN: 80-903063-6- 5.
TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BENEŠOVÁ, M.; GRMELA, L. Near-field study of carrier dynamics in InAs/ GaAs quantum dots grown on InGaAs layers. Materials Science Forum, 2005, roč. 482, č. 1, s. 151-155. ISSN: 0255- 5476.
TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Local near- field scanning optical microscopy and spectroscopy of nanostructures. In Nano´ 04. Brno: Brno University of Technology, 2005. s. 188-193. ISBN: 80-214-2793- 0.
UHDEOVÁ, N.; VEVERKA, O.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J. Fyzikální praktikum. Brno: FEKT VUT v Brně, 2005. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-2989- 5.
 
2004
TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; DOBIS, P. Scanning near- field optical microscopy in semiconductor research. Physics of low- dimensional structures, 2004, roč. 2004, č. 1/ 2, s. 47-53. ISSN: 0204- 3467.
ŠIKULA, J., SEDLÁKOVÁ, V., DOBIS, P. Noise and Non- Linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices. Informacije MIDEM, 2004, roč. 2003, č. 4, s. 213-221. ISSN: 0352- 9045.
TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Proceedings of SPIE, 2004, č. 5477, s. 131-137. ISSN: 0277- 786X.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., GRMELA, L. Near-field optical measurement of carrier recombination in InAs/ GaAs quantum dots. Material structure & micromechanics of fracture. Brno: Vutium, Brno, 2004. s. 115 ( s.)ISBN: 80-214-26732- X.
TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Near- field local optical spectrosccopy of nanostructured semiconductors. Nano ´ 04. Brno: VUTIUM Brno, 2004. s. 40 ( s.)ISBN: 80-214-2672- 1.
UHDEOVÁ, N., VEVERKA, O., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Fyzikální praktikum. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-2710- 8.
SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., DOBIS, P., ŠIKULA, J., TACANO, M., HASHIGUCHI, S. Non- lineartiy changes induced by current stress in thick film resistors. In 24th Capacitor and Resistor Technology Symposium. Capacitor and Resistor Technology. U.S.A.: ECA, 2004. s. 154 ( s.)ISSN: 0887- 7491.
TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544). 2004. Brno: MŠMT- Kontakt 544, 2004. s. 1-19.
GRMELA, L.; DOBIS, P.; MAJZNER, J.; KALA, J.; ZAJAČEK, J. Automatic Noise Spectral Density Measuring Set- up. In New Trends in Physics. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2004. s. 32-35. ISBN: 80-7355-024- 5.
HRADILOVÁ, E., DOBIS, P. Výuka fyziky v nových studijních programech. Pedagogická konference FEKT VUT. Brno, ČR: FEKT VUT, 2004. s. 1 ( s.)
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P. Scanning near- field optical microscopy and its application in semiconductor investigation. In Scanning probe microscopy 2004. Nizhny Novgorod: Institute for Physics of Microsctructures RAS, 2004. s. 108-111.
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L. Local photoluminescence measurement of semiconductor InGaAs quantum dot excited states. Photonics Europe. SPIE, Europe, 2004. s. 178 ( s.)
 
2003
BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; TOMÁNEK, P.; UHDEOVÁ, N. Local measurement of optically induced photocurrent in semiconductor structures. Proceedings of SPIE, 2003, roč. 5036, č. 5036, s. 635-639. ISSN: 0277- 786X.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., UHDEOVÁ, N. Nanometric applications of the Scanning Near- field optical microscopy. In Proceedings of the National Conference NANO´ 02. Brno: Česká společnost pro nové materiály a technologie, 2003. s. 166 ( s.)ISBN: 80-7329-027- 8.
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., KAWATA, S. Near- field optical imaging of carrier dynamics in silicon with superresolution. In Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod, Russia: Institute for Physics of microstructures RAS, 2003. s. 63-65.
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., GRMELA, L. Near field scanning optical microscopy as an imaging tool for carrier process in silicon. In Advanced engineering design. Praha: Process Engineering Publisher, 2003. s. F1. 3 (F1.7 s.)ISBN: 80-86059-35- 9.
OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Singular Spectral Index Method for the Analysis of the Rib Waveguide. In Measurement 2003. Bratislava: 2003. s. 395 ( s.)ISBN: 80-967402-6- 1.
UHDEOVÁ, N., VEVERKA, O., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: FEKT VUT v Brně, 2003. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-2442- 7.
TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; KAWATA, S. Near- field optical diagnostics of carrier dynamics in semiconductor with superresolution. Physics of low- dimensional structures, 2003, roč. 2003, č. 3/ 4, s. 131-137. ISSN: 0204- 3467.
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Local optical imaging of electronic characteristics in semiconductors. In Noise and fluctuation ICNF 2003. Brno: 2003. s. 445 ( s.)ISBN: 80-239-1005- 1.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin- film Electroluminescent Devices. In The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference. Neuveden. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2003. s. 287 ( s.)ISBN: 80-2142452- 4.
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Correlation optics 6. Neuveden. Chernivtsy: 2003. s. 56 ( s.)
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. 1/f Noise in InAs/GaAs Quantum Dots and InGaAs/GaAs/ InGaP Quantum Well LEDs and in quantum well laser diodes. In CO-MAT-TECH 2003, 11th International scientific conference. Bratislava: MtF STU Trnava, 2003. s. 1063 ( s.)ISBN: 80-277-1949- 8.
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near- field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´ 03. Brno: 2003. s. 51 ( s.)ISBN: 80-214-2486- 9.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Comparison of low-frequency noise and near-field optical spectroscopy of GaAs/AlGaAs single-quantum- well laser diodes. In Atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures. Nara, Japan: Japan society of applied physics, 2003. s. 431 ( s.)
SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., ŠIKULA, J., DOBIS, P., ROČAK, D., BELAVIČ, D., TACANO, M., HASHIGUCHI, S. Current density distribution, noise and non- linearity of thick film resistors. In Proceedings of 14th European Microelectronics and Packaging Conference. Německo: IMAPS Germany, 2003. s. 127 ( s.)
SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., GRMELA, L., DOBIS, P., ŠIKULA, J., TACANO, M., ROČAK, D., BELAVIČ, D. The effect of silver diffusion from contact electrode into thick film resistors. In CARTS - EUROPE 2003 Proceedings. United Kingdom: Electronic Components Institute Internationale Ltd., 2003. s. 201 ( s.)ISBN: 0887- 7491.
ŠIKULA, J., DOBIS, P. Noise and Non- linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices. In MIDEM Cenference 2003 Proceedings. Slovenia: MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic components and Materials, 2003. s. 3 ( s.)ISBN: 961-91023-1- 2.
BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Současný stav využití e- learningu na UFYZ FEKT VUT. In Konference eLearning ve vysokoškolském vzdělávání 2003. Zlín: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, 2003. s. 15 ( s.)ISBN: 80-7318-138- X.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Digitalized educational materials for teaching physics at FEEC, Brno University of Technology. In Proceedings of the 11th International Scientific Conference CO-MAT- TECH 2003. Bratislava: Vydavateľstvo STU v Bratislave, 2003. s. 151 ( s.)ISBN: 80-227-1949- 8.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Elektronické učební opory pro prezenční i distanční studium. In 3. konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických. Brno: Akademie, o.p.s., 2003. s. 198 ( s.)ISBN: 80-85960-51- 6.
ŠIKULA, J., DOBIS, P., PAVELKA, J., TACANO, M., HASHIGUCHI, S. Stochastic model for random tegraph signals in MOSFETS. In Proceeding of the 18th Forum of Science and Technology of Fluctuations. Tokyo: Meisei University Tokyo, 2003. s. 1 ( s.)
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near- field scanning optical microscopy of semiconductors. In Proceedings of International conference Nano´ 03. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, 2003. s. 201 ( s.)ISBN: 80-214-2527- X.
ŠIKULA, J., DOBIS, P., SEDLÁKOVÁ, V. Noise and non- linearity as reliability indicators of electronic devices. In MIDEM 2003 Conference Proceedings. Slovenia: MIDEM Slovenia, 2003. s. 3 ( s.)ISBN: 961-91023-1- 2.
SEDLÁKOVÁ, V., DOBIS, P., ŠIKULA, J., HOSCHL, P., SITA, Z., ZEDNÍČEK, T. Low Frequency Noise of Nb2O5 Thin Insulating Films. In Proceedings of the 17th International Nonference Noise and Fluctuations ICNF 2003. Czech Republic: CNRL s.r.o., 2003. s. 141 ( s.)ISBN: 80-239-1005- 1.
 
2002
ŠIKULA, J., PAVELKA, J., GRMELA, L., DOBIS, P., ZEDNÍČEK, T. Charge Carriers Transport and Noise of Niobium Capacitors. In CARTS-EUROPE 2002 Proceedings, 16th European Passive Components Conference. Swindon, England: Electronic Components Institute Internationale Ltd., 2002. s. 32 ( s.)
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D. Nanometric applications of the Scanning Near- field Optical Microscopy. In NANO´ 02. Brno: Akademické nakladatelství, CERM, 2002. s. 53-53. ISBN: 80-7204-258- 0.
GRMELA, L., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Near-Field Induced Photocurrent Spectra: New Way of Non-destructive Testing of DQW- GRIN Laser Diodes Reliability. In Noise and Non- linearity Testing of Modern Electronic Components. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2002. s. 129 ( s.)ISBN: 80-238-9094- 8.
DOBIS, P., UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., BARTLOVÁ, M. Průvodce studiem předmětu Fyzika 1. Průvodce studiem Fyziky 1. Brno: FEKT VUT v Brně, 2002.
UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002. ISBN: 80-214-2051- 0.
GRMELA, L., DOBIS, P., KOKTAVÝ, P., PAVELKA, J. Noise Tester for Electronic Components. In Noise and Non-linearity Testing of Modern Electronic Components - NNT. Brno: Ing.Zdeněk Novotný, CSc., 2002. s. 59 ( s.)ISBN: 80-238-9094- 8.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic Noise and Detectivity of CdHgTe Detectors. In Noise and Non-linearity testing of Modern Electronic Componenets- NNT2001 Proceedings. Brno: CNRL Brno, 2002. s. 104 ( s.)ISBN: 80-238-9094- 8.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Introductory courses of physics for BEng. students of electrical engineering, communication and information technology. In Proceedings of the PTEE 2002 conference. Leuven, Belgium: KU Leuven, Belgium and SEFI, 2002. s. G9 ( s.)ISBN: 90-5682-359- 0.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic Noise as Diagnostic Tool of Infrared detectors. In Electronic Devices and Systems EDS' 02. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002. s. 128 ( s.)ISBN: 80-214-2180- 0.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Physics at the Brno University of Technology after Bologna Declaration. In CO-MAT- TECH 2002. Bratislava: Slovenská technická univerzita v Bratislave, 2002. s. 269 ( s.)ISBN: 80-227-1768- 1.
SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., ŠIKULA, J., DOBIS, P., ROČAK, D., BELAVIČ, D. Influence od Contact Electrode on Thick Film Resistors Noice and Nonlinerity. In Proc. of 38th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials. Lipica, Slonenia: 2002. s. 245 ( s.)ISBN: 961-91023-0- 4.
ŠIKULA, J., PAVELKA, J., MAJZNER, J., DOBIS, P. Cracks Characterisation by Acoustic and Electromagnetic Emission. In EWGAE 2002 Proceegings. Brno: Czech Society for Non- destructive Testing, 2002. s. II/ 164 ( s.)ISBN: 80-214-2174- 6.
ŠIKULA, J., PAVELKA, J., DOBIS, P., ZEDNÍČEK, T. Charge carrier transport and noise of niobium capacitors. In Proceeding of CARTS 2002 - 16th European Passive Components Conference. SWINDON, England: Electronic Components Institute Internationale, Ltd., 2002. s. 32 ( s.)
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L. Spectral measurements of semiconductor structures using optical near- field approach. In Joint COST- Action workgroup meeting on individual and assembled nanoparticles and quantum dots. Leuven, Belgie: KU Leuven, COST 523, 2002. s. P55 ( s.)
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Measurement of local photoluminescence and optically induced photocurrent in semiconductor structures. In Photonics Prague 2002. Praha: Tech-Market, Praha, 2002. s. 146-146. ISBN: 80-86114-46- 5.
 
2001
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Electronic noise and detectivity of CdHgTe detectors. In Electronic Devices and Systems. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2001. s. 57 ( s.)ISBN: 80-214-1960- 1.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. General courses of physics and internet. In Nové trendy ve fyzice. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, Ústav fyziky, Technická 8, 616 00 Brno, 2001. s. 445 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P. Near- field photoluminescence as high resolution diagnostics of semiconductor structures. In Proceedings of Materials structure and micromechanics of fracture. Brno: VUTIUM, 2001. s. 439 ( s.)ISBN: 80-24-14-1892- 3.
UHDEOVÁ, N. a kol. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktitkum. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, 2001. ISBN: 80-214-1818- 4.
UHDEOVÁ, N., DOBIS, P. ICT- based Education. In Nové trendy ve fyzice. Brno: VUT v Brně, 2001. s. 540 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. A simplified local surface photoreflectance measurement. In Proceedings of Materials structure and micromechanics fracture. Brno: VUTIUM, 2001. s. 439 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Makroskopické vysvětlení rozlišovací schopnosti rastrovacího optického tunelového mikroskopu. In Nové trendy ve fyzice - New trends in Physics. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. s. 327 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Near- field optical microscopy diagnostics. In From quantum optics to photonics. Warszaw: Faculty of Physics, Warszaw University, 2001. s. 90 ( s.)ISBN: 83-913171-4- 5.
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P. Near field photoluminescence and photoreflectance measurements of semiconductor structures. In Nanomaterials: Fundamentals and applications. Limerick: MSSI, 2001. s. 59 ( s.)
TOMÁNEK, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Optoelectronics and optical fiber sensors in engineering education. In CO-MAT- TECH 2001. sv. 2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. s. 390 ( s.)ISBN: 80-227-1591- 3.
BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. The basic concepts of near field optics. In CO-MAT- TECH 2001. sv. 2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. s. 223 ( s.)ISBN: 80-227-1591- 3.
TOMÁNEK, P., GRMELA, L., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Projekt "Fyzikální základy optoelektroniky". In Nové trendy ve fyzice. sv. 2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, 2001. s. 536-539. ISBN: 80-214-1992- X.
 
2000
UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2000. ISBN: 80-214-1521- 5.
 
1999
UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Das System CUPS für den Physikunterricht. In CO-MAT- TECH 1999. Bratislava: Slovenská technická univerzita Bratislava, 1999. s. 396 ( s.)ISBN: 80-227-1272- 8.
UHDEOVÁ, N., DOBIS, P., HRADILOVÁ, E. Inovace výuky základního kursu fyziky na VŠT s podporou PC. neuvedeno. 1999. s. 1 ( s.)
TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., LÉTAL, P., GRMELA, L., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Lokální spektroskopie a lokální fluorescence dielektrických a polovodičových povrchů. In Transfer+ 99. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 1999. s. H91 (H92 s.)ISBN: 80-214- 134.
 
1998
LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P. Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli. Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics, 1998, roč. 5, č. 3, s. 215-217. ISSN: 1210- 2717.
LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than 250 nm). In Electronic devices and systems (EDS´98). Brno: Technical University of Brno, 1998. s. 169 ( s.)ISBN: 80-214- 119.
DOBIS, P. Řešení problému detekce blízkého pole pomocí Greenových funkcí. In Radioelektronika 98. 2. Brno: VUT Brno, s. 442 ( s.)ISBN: 80-214- 098.
DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Nácvik laboratorních dovedností a počítač jako studentský nástroj. In Experiments and measurement in engineering physics education. Brno: Technical University of Brno, s. 139 ( s.)ISBN: 80-214- 122.
LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Chybí název. In Material structure and micromechanics of fracture (MSMF-2). Brno: Technical University of Brno, 1998. s. 62 ( s.)ISBN: 80-214- 118.
TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L. Hybrid STM/r- SNOM with novel probe. Ultramicroscopy, 1998, roč. 71, č. 1- 4, s. 199-203. ISSN: 0304- 3991.
LÉTAL, P., BRÜSTLOVÁ, J., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than of 250 nm). In Proc. of 5th Int.Conf. Electronic devices and systems 1998. Brno: 1998. s. 173 ( s.)ISBN: 80-214-1198- 8.
LÉTAL, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Near-field and far- field spectroscopy of semiconductors. 2nd Int.Coll, MSMF- 2. Brno: 1998. s. 62 ( s.)ISBN: 80-214-1181- 3.
LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L. Local spectroscopy by scanning near- field optical microscopy. Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics, 1998, roč. 5, č. 3, s. 215 ( s.)ISSN: 1210- 2717.
UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktitkum. Fyzikální praktikum. Brno: VUTIUM Brno, 1998. ISBN: 80-214-1215- 1.
 
1997
BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., UHDEOVÁ, N. General Course of Physics at Technical Universities - Problems and Prospekts. In Physics Teaching in Engineering Education. Kodaň: Engineering College of Copenhagen (IKT), 1997.
UHDEOVÁ, N., DOBIS, P. Problematika základního kursu fyziky na VŠT- situace na FEI VUT Brno. In MEDACTA´ 97. 2. Nitra: Slavdidac Nitra, 1997. s. 522 ( s.)ISBN: 80-967339-9- 0.
UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum. Fyzikální praktikum. Brno: PC- DIR Brno, 1997. ISBN: 80-214-0903- 1.
DOBIS, P. Šumová diagnostika IČ detektorů. In 5th CO-MAT- TECH 97. Bratislava: STU Bratislava, s. 105 ( s.)ISBN: 80-227- 097.
TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., LÉTAL, P. Topography and local spectroscopy of transparent and reflection surfaces with subwavelength lateral resolution. In New trends in surface analysis. Bratislava: STU Bratislava, 1997. s. 49 ( s.)ISBN: 80-227- 101.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Vizualizace latentních obrazů pomocí optiky v blízkém poli. In Workshop 97. 3. Praha: CTU Publ. house Prague, 1997. s. 1021 ( s.)
TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Tunnel noise spectroscopy by reflection SNOM and STM. Proceedings of SPIE, 1997, roč. 3098, č. 1, s. 514 ( s.)ISSN: 0277- 786X.
 
1996
UHDEOVÁ, N., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., VEVERKA, O. Fyzikální praktikum I. Fyzikální praktikum I. Brno: PC- DIR Brno, 1996. ISBN: 80-214-0790- 5.
 
1995
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Vývoj technik blízkého pole pro měření nanostruktur. In Mezinárodní konference VŠB: Aplikovaná fyzika. 11. Ostrava: VŠB Ostrava, 1995. s. 113-118.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Characterization of surface corrugation by near- field techniques. EOS Annual Meeting, 1995, roč. 2A, č. 2A, s. 101-102. ISSN: 1022- 0151.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Superrozlišující vlastnosti optických sysémů v blízkém poli. In Mezinárodní konference VŠB: Aplikovaná fyzika. 11. Ostrava: VŠB Ostrava, 1995. s. 331 ( s.)
TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N. Twinned STM/SNOM setup. EOS Topical Meeting, 1995, roč. 8, s. 78 ( s.)ISSN: 1167- 5357.
DOBIS, P., VAŠINA, P. Vývoj šumových charakteristik a rozvoj technologie CdHgTe infračervených detektorů. In NODITO - Noise and Reliability of Semiconductor Devices. Brno: VUT Brno, s. 204 ( s.)
TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N. STM/ SNOM setup. In 1995.
 
1994
DOBIS, P. Detektivita a šumové characteristiky CdHgTe infračervených detektorů. In Fluctuation phenomena in physical systems. Vilnius: Vilnius University Press, s. 408 ( s.)ISBN: 9986-19- 07.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., OHLÍDAL, M. Optická metrologie a nanotechnologie. Brno: Fond rozvoje VŠ, čj. 1994/ 0671, 1994.
TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. Versatile STM+SNOM+ AFM. In Nanometrology, Scanning probe microscopy and related techniques. Brno: PC- DIR Brno, 1994. s. 43 ( s.)ISBN: 80-85895- 0.
DOBIS, P., VAŠINA, P. Stochastické procesy v CdHgTe infračervených detektorech. In Electronic devices and systems. Brno: Technical University of Brno, s. 115 ( s.)
 

Partneři, projekty

© 2016 Ústav fyziky

System: Pavel Koktavý, Design: Martin Kopecký