Produkty

Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu

Autor: Miloš Chvátal, Jiří Majzner, Lubomír Grmela
Typ: Software
Rok: 2012
Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K. Kryostatická laboratoř se skládá z héliového kryostatu, kompresoru, vývěvy, tlakoměru, teplotního kontroléru, polovodičového testeru, stabilizovaného zdroje, AC a relé kontroléru a osobního počítače.

Partneři, projekty

© 2016 Ústav fyziky

System: Pavel Koktavý, Design: Martin Kopecký